L4
C2740
自動晶圓探針測試機
台灣精測AP-6000自動晶圓探針測試機，具備高精度探針定位和高速測試能力。它能在晶圓級別對感測器進行電性功能測試和參數驗證，有效篩選不良晶粒，大幅提升後續封裝良率和降低成本。
台灣精測AP-6000自動晶圓探針測試機，具備高精度探針定位和高速測試能力。它能在晶圓級別對感測器進行電性功能測試和參數驗證，有效篩選不良晶粒，大幅提升後續封裝良率和降低成本。